SP-BS-1908 型雜質(zhì)黑點(diǎn)檢測(cè)儀

Calpas同款雜質(zhì)粒子檢測(cè)儀_黑點(diǎn)_缺陷掃描的用途

按相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)分析樹脂片或顆粒的雜質(zhì)黑點(diǎn)的大小、數(shù)量，以及黑點(diǎn)顆粒占比數(shù)。

適用于透明、半透明、不透明的膜片、顆粒，如PP、PE、PVC、PPS 等等。

也適用薄膜等透明體的黑點(diǎn)和內(nèi)在疵點(diǎn)的檢測(cè)和分析。

Calpas同款雜質(zhì)粒子檢測(cè)儀_黑點(diǎn)_缺陷掃描的技術(shù)指標(biāo)

1. 測(cè)量規(guī)格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按選用的標(biāo)準(zhǔn)，可在軟件界面選定。

2. 最小檢測(cè)目標(biāo)： 0.1mm

3. 檢測(cè)精度： 小于0.035mm

4. 檢測(cè)面積：不小于200×200mm

5. 器皿大小：200mm×200mm 凈面積，用于顆粒黑點(diǎn)檢測(cè)。

6. 放大倍數(shù)：>20 倍

7. 光密度:不小于6000 流明

8. 光源要求: 24V/60W

9. 供電電源：220V,50HZ

10.外形尺寸：約459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)

儀器功能特點(diǎn)

1. 測(cè)量黑點(diǎn)的大小和數(shù)量,以及黑點(diǎn)顆粒占比數(shù)。 SP-BS-1908 型 黑點(diǎn)檢測(cè)儀

2. 可提供黑點(diǎn)、損壞顆粒，以及膜片質(zhì)地紋路的分布圖譜。

3. 黑點(diǎn)或膜片質(zhì)地分布可放大和縮小。

4. 被測(cè)目標(biāo)可分類計(jì)數(shù)和統(tǒng)計(jì)。

5. 按適用的標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成檢測(cè)報(bào)告。

6. 報(bào)告和圖譜可打印可儲(chǔ)存。

7. 進(jìn)樣方向與屏幕顯示的走向一致，友好的界面視覺感。

8. 顆粒以透明器皿為載體，批次檢測(cè)。

9. 透明薄膜直接平鋪在檢測(cè)平臺(tái)上進(jìn)行檢測(cè)，無需對(duì)薄膜作黑化或貼紙?zhí)幚怼?/p>

儀器的配置

☆ SP-BS-1908M 雜質(zhì)黑點(diǎn)檢測(cè)儀

☆ 標(biāo)準(zhǔn)板

☆ 透明器皿 (測(cè)顆粒用)

☆電腦工作站

☆ 應(yīng)用軟件